mérnök-fizikus, a Semilab Félvezető Fizikai Laboratórium Zrt. részlegvezetője

Budapesten született 1974-ben. 1998-ban mérnök-fizikus diplomát szerzett a Budapesti Műszaki Egyetemen, optika szakirányon. Első munkahelyén a Philips optikai adattárolás üzletágában fejlesztési projektekben szerzett tapasztalatot a vállalat telephelyein: Magyarországon, Belgiumban és Bécsben. A SEMILAB-nál 16 éve dolgozik, optikai fejlesztési részlegvezetőként az infravörös tartományban működő, valamint a fotolumineszcencián alapuló optikai mérőautomaták fejlesztését és az ezeken a fejlesztéseken dolgozó több mint 100 kolléga (fizikus, mérnök és szoftverfejlesztő) munkáját koordinálja. A napelem ipar számára nagyszámú mérő modul értékesítéséhez járult hozzá, az optika részleg fejlesztéseivel, melyeket szilícium blokkok infravörös leképezés alapú minősítésére, ill. a napelem cellák fotolumineszcens leképezés alapú automata vizsgálatára használnak az iparágban. Munkatársaival közös fejlesztettései: a kristályhibák fotolumineszcens emissziós leképezésén alapuló automata mérőberendezés, egyedülálló módon a félvezető iparban használt szilícium szeletek kritikus, felszín alatt megbúvó kristályhibáinak roncsolásmentes feltérképezésére alkalmas, valamint a fényszórás alapú tömbi kristályhiba minősítő berendezés, mely mára a szilícium szeletek gyártóinál referencia eszközzé vált. Társszerzőként 23 nemzetközi publikációban működött közre, a fotomodulált reflexió mérés, ion implantálás, valamint a szilícium szeletek és a tömbi szilícium optikai hibáinak analízise témakörében. Fotolumineszcencia képalkotás területén társszerző 4 szabadalomban.

A díjat a félvezető alapanyagok és napelem cellák gyártásközi ellenőrzésére alkalmas fotolumineszcencia és infravörös leképezésen alapuló eljárások fejlesztéséért, továbbá fotomodulált reflexiómérés optimalizált változatának bevezetéséért kapta, mely módszereket a növekvő integrált áramkör igényeknek megfelelően, hatékonyság növelésére és hibák kiszűrésére világszerte alkalmaznak.